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發(fā)布日期:2022-04-27 點(diǎn)擊率:104
PXI-5922是業(yè)界第一款適用于各種動(dòng)態(tài)信號(hào)測(cè)量的通用儀器。正如數(shù)字萬用表(DMM)把數(shù)項(xiàng)直流信號(hào)測(cè)量歸并到同一臺(tái)儀器中,PXI-5922在一臺(tái)儀器中提供了多臺(tái)儀器的測(cè)量能力,實(shí)現(xiàn)了動(dòng)態(tài)或交流信號(hào)測(cè)量的變革。與功能強(qiáng)大的軟件(如NI LabVIEW) 結(jié)合,該數(shù)字化儀在高達(dá)15 MS/s的采樣率范圍具有無與倫比的性能,可以用來替代許多傳統(tǒng)儀器 (如音頻分析儀、頻譜分析儀、中頻數(shù)字化儀、DC和RMS伏特計(jì)和頻率計(jì)數(shù)器等) 的測(cè)量能力。
[B]目錄[/B]
· 簡(jiǎn)介
· PXI-5922的構(gòu)架
· 它不僅僅只有高分辨率ADC
· PXI-5922的性能示例
· 結(jié)論
[B]簡(jiǎn)介[/B]
PXI-5922是一臺(tái)具有靈可變分辨率的數(shù)字化儀,它可調(diào)整使用不同的采樣率采集數(shù)據(jù),以達(dá)到實(shí)際應(yīng)用所需的可變分辨率。例如,在低采樣率(最高達(dá)500 kS/s)時(shí),PXI-5922的分辨率達(dá)24位。無須任何改變,該模塊便可降低分辨率以提高采樣速率。下圖便是該數(shù)字化儀的頻率-分辨率曲線圖。
[img]20053251465145679.gif[/img]
[center]圖1具有可變分辨率的PXI-5922數(shù)字化儀的頻率-分辨率曲線圖[/center]
由于其分辨率靈活可變以及動(dòng)態(tài)范圍寬的特性,PXI-5922成為業(yè)界第一款適用于各種動(dòng)態(tài)信號(hào)測(cè)量的通用儀器。正如數(shù)字萬用表(DMM) 用作DC測(cè)量 (如電壓、電流和電阻等) 的通用測(cè)量設(shè)備,PXI-5922使一臺(tái)儀器具備了多臺(tái)儀器的測(cè)量能力,實(shí)現(xiàn)了AC測(cè)量的變革。結(jié)合功能強(qiáng)大的開發(fā)軟件(如NI LabVIEW),該數(shù)字化儀在高達(dá)15 MS/s的采樣率范圍具有無與倫比的性能,可以用來替代許多傳統(tǒng)儀器(如音頻分析儀、頻譜分析儀、IF數(shù)字化儀、DC和RMS伏特計(jì)和頻率計(jì)數(shù)器等)的測(cè)量能力。
包括音頻、通信和超聲的許多應(yīng)用都要求極高的動(dòng)態(tài)性能。傳統(tǒng)儀器的性能雖已有所改進(jìn),但仍落后于分辨率和動(dòng)態(tài)范圍的需求。而在另一方面,PXI-5922前所未有地大幅提升了動(dòng)態(tài)范圍和分辨率,如圖2所示。該圖描述了NI測(cè)量設(shè)備的頻率(一個(gè)信號(hào)被數(shù)字量化的速率)-分辨率(該信號(hào)被采集的精確性)關(guān)系與傳統(tǒng)數(shù)據(jù)采集儀器和模塊化儀器的對(duì)比差異。
[img]20053251472772364.jpg[/img][center]圖2 傳統(tǒng)儀器與NI數(shù)據(jù)采集卡和模塊化儀器(發(fā)布PXI-5922之前和之后)的頻率-分辨率曲線圖[/center]
PXI-5922,與其他的虛擬儀器產(chǎn)品相似,利用功能強(qiáng)大的主機(jī)完成復(fù)雜的、基于算法的線性化和校準(zhǔn),以消除溫度漂移和非線性誤差。雖然計(jì)算機(jī)可以嵌入到傳統(tǒng)儀器,但從以往實(shí)踐來看,這些儀器的冗長(zhǎng)的開發(fā)周期排除了吸納最新的計(jì)算能力的可能。與之相反,隨著計(jì)算機(jī)能力的增長(zhǎng),新增的計(jì)算能力可以立即運(yùn)用到虛擬測(cè)量中。
為什么其它基于PC的數(shù)字化儀無法提供PXI-5922那樣的分辨率?這是因?yàn)榇蠖鄶?shù)制造商依賴組件廠商提供的現(xiàn)成即用的ADC。直到今天,仍未出現(xiàn)能夠與PXI-5922的性能相媲美的可商用的ADC。PXI-5922的世界級(jí)性能成為可能,是因?yàn)槠涮攸c(diǎn)在于下一代具有靈活分辨率的模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器——Flex II ADC,它的一部分是在NI設(shè)計(jì)的完全定制的模擬ASIC上實(shí)現(xiàn)的。
[B]PXI-5922的構(gòu)架[/B]
PXI-5922數(shù)字化儀的核心之處在于下一代具有可變分辨率的轉(zhuǎn)換器——基于27 GHz雙極工藝處理的Flex-II ADC。本章節(jié)將討論Flex-II ADC(一個(gè)增強(qiáng)型多位DS轉(zhuǎn)換器)的構(gòu)架。
[B]DS ADC概述[/B]
圖3是一個(gè)簡(jiǎn)單的單比特DS ADC的結(jié)構(gòu)框圖,一般包括一個(gè)調(diào)制器和一個(gè)數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)。
[img]20053251482026832.gif[/img][center]圖3一個(gè)簡(jiǎn)單的單比特DS ADC的結(jié)構(gòu)框圖[/center]
單比特調(diào)制器由一個(gè)減法節(jié)點(diǎn)、一個(gè)環(huán)路濾波器、一個(gè)1位ADC和反饋環(huán)路上的一個(gè)1位DAC組成。ADC和DAC以比期望的采樣率高得多的速率過采樣。過采樣的結(jié)果便是量化噪聲分散在更寬的頻帶上,從而得到比其他ADC構(gòu)架更低的噪聲本底。這種效應(yīng)如圖4和5所示。
[img]20053251484710555.gif[/img][center]圖4 在傳統(tǒng)(非過采樣,non-oversampled)ADC的FFT中,量化噪聲均勻分布在0~Fs/2頻帶上(Fs指采樣率)[/center]
[img]2005325149935474.gif[/img]
[center]圖5過采樣效應(yīng)——量化噪聲分散在更寬的頻帶(0~kFs/2)上,其中k是過采樣因子。結(jié)果得到一個(gè)更低但是展開的噪聲本底。[/center]
模擬輸入信號(hào)通過一個(gè)減法節(jié)點(diǎn)注入模擬環(huán)路濾波器。該濾波器的內(nèi)在特性——低頻段高增益,高頻段低增益——使它成為一個(gè)低通濾波器。來自ADC內(nèi)部的量化噪聲與環(huán)路濾波器的增益成反比。結(jié)果,量化噪聲在反饋環(huán)路被高通濾波。此項(xiàng)技術(shù)被稱為“噪聲整形”,如圖6所示。
[img]20053251493495344.gif[/img][center]圖6噪聲整形效應(yīng)——量化噪聲被遷移到更高的頻段[/center]
這里,量化噪聲的分布發(fā)生了變化。這種噪聲分布的優(yōu)勢(shì)在于大多數(shù)噪聲集中在更高的頻率,在DSP中應(yīng)用低通濾波器,可以很容易地在數(shù)字域消除這種高頻噪聲。然后,抽取該信號(hào)(由于我們?cè)陂_始時(shí)對(duì)該信號(hào)進(jìn)行了過采樣,所以抽取不會(huì)導(dǎo)致信息丟失),圖7描述了抽取濾波器的作用。
[img]200532514101245570.jpg[/img][center]圖7低通濾波器和抽取濾波器的效果——消除高頻噪聲,并通過抽取把采樣率降到Fs。[/center]
可變分辨率的Flex II ADC——完全可自定義的模擬ASIC
Flex II ADC是一個(gè)增強(qiáng)型的多位DS ADC。與簡(jiǎn)單的單比特DS ADC的結(jié)構(gòu)相比,F(xiàn)lex II ADC的關(guān)鍵增強(qiáng)之處使其性能出眾成為可能,這些關(guān)鍵增強(qiáng)之處如下:
· 調(diào)制器內(nèi)部的多比特ADC和DAC
· 數(shù)字線性化和校準(zhǔn)
· 時(shí)間連續(xù)環(huán)路濾波器
圖8描述了Flex II ADC(一個(gè)增強(qiáng)型DS ADC)的結(jié)構(gòu)框圖。
[img]20053251411455727.gif[/img]
[center]圖8增強(qiáng)型多位DS ADC的結(jié)構(gòu)框圖[/center]
[B]調(diào)制器內(nèi)部的多位ADC和DAC[/B]
由于消除了許多高頻噪聲,單比特DS ADC擁有極寬的動(dòng)態(tài)范圍。然而,單比特DS ADC的主要缺陷在于工作頻率低,因而在許多需要在更高頻率操作的應(yīng)用中無法使用。
解決單比特DS ADC的頻率限制問題的一個(gè)方法是,引申同樣的基本原理以創(chuàng)建一個(gè)多位DS ADC。理論上,多位DS ADC能夠達(dá)到與單比特DS ADC同樣水平的動(dòng)態(tài)范圍,而且是在更高的頻率。然而,多位DS ADC引入了非線性,直到目前,非線性仍是一個(gè)有待克服的難題。
PXI-5922是一個(gè)6位DS,其主要特點(diǎn)在于在調(diào)制器內(nèi)部有6位ADC和DAC各一個(gè),兩者均以120 MS/s的過采樣率運(yùn)行。我們采用專利方法對(duì)此多位DS ADC進(jìn)行線性化處理,因此,與常用的傳統(tǒng)單比特DS ADC相比,數(shù)字化儀在高得多的頻率達(dá)到了前所未有的動(dòng)態(tài)范圍。
[B]數(shù)字線性化與校準(zhǔn)[/B]
調(diào)制器內(nèi)部的反饋環(huán)路的一個(gè)良好特性便是抑制誤差的能力。不幸的是,它不能抑制環(huán)路的反饋通路上的誤差。因此,DAC中的轉(zhuǎn)換誤差不能被衰減,從而直接影響了調(diào)制器的轉(zhuǎn)換質(zhì)量。DAC從以下兩個(gè)方面降低了整個(gè)轉(zhuǎn)換的質(zhì)量:
· 輸出中的模擬噪聲
· 非線性
噪聲性能可以通過ASIC的設(shè)計(jì)得到控制,但所需的線性度性能更難處理。
考慮一下圖9所示的簡(jiǎn)單的2位DAC。DAC轉(zhuǎn)換器由三個(gè)電流發(fā)生器(I1-I3)組成,它們分別由三個(gè)開關(guān)(S1-S3)控制。最終的輸出電流Iout取決于閉合的開關(guān)的數(shù)目。如果三個(gè)電流值不相同,那么DAC的轉(zhuǎn)移函數(shù)呈非線性,如圖9所示。對(duì)于轉(zhuǎn)換器的理想操作,三個(gè)電流發(fā)生器必須是同等的,而且開關(guān)S1-S3必須同時(shí)操作。
[img]200532514121164170.gif[/img][center]圖9 如果電流值不同或沒有同時(shí)開關(guān),一個(gè)2位DAC及其對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)移函數(shù)呈非線性。[/center]
DAC的最佳實(shí)現(xiàn)是在一塊集成電路上完成,以保證電流值和開關(guān)時(shí)間的最可能的匹配。不幸的是,即使在同一個(gè)芯片上也無法達(dá)到所要求的性能。
在一個(gè)芯片上匹配增強(qiáng)的傳統(tǒng)方法是調(diào)整電路,如通過激光修剪晶片。但封裝、老化和溫度變化都將降低匹配效果,而且,修剪也顯著增加了芯片的生產(chǎn)成本。
為了避開這些問題,PXI-5922采用了不同的途徑——通過DSP已數(shù)字方式補(bǔ)償難以避免的匹配誤差。使用NI專利的靈活分辨率技術(shù),在自校準(zhǔn)時(shí)在電路中導(dǎo)出電流和定時(shí)的誤差,這樣比晶片層次上的匹配更為理想。
NI的靈活分辨率技術(shù)被用于誤差參數(shù)的導(dǎo)出。在自校準(zhǔn)時(shí),將一個(gè)純模擬正弦波信號(hào)注入到轉(zhuǎn)換器,然后,根據(jù)在主機(jī)上執(zhí)行的一個(gè)復(fù)雜算法從轉(zhuǎn)換器的數(shù)字響應(yīng)提取誤差。
[img]200532514123786494.gif[/img]
[center]圖10 將一個(gè)純3 kHz正弦波注入到6位DS ADC的FFT曲線圖(線性化之前)[/center][img]200532514124959001.gif[/img]
[center]圖11 將一個(gè)純3 kHz正弦波注入到6位DS ADC的FFT曲線圖(線性化之后)[/center]
[B]
時(shí)間連續(xù)的環(huán)路濾波器[/B]
與傳統(tǒng)所用的標(biāo)準(zhǔn)開關(guān)電容濾波器相反,F(xiàn)lex II ADC內(nèi)部的環(huán)路濾波器是時(shí)間連續(xù)的(TC)。由于需要精密無源器件,很難實(shí)現(xiàn)TC集成在芯片上。然而,TC實(shí)現(xiàn)對(duì)混疊不敏感,所以調(diào)制器的內(nèi)部噪聲源在通帶不會(huì)產(chǎn)生混疊和積累。結(jié)果,該轉(zhuǎn)換器噪聲更少,而且分辨率更高。另一個(gè)重要的益處就是,由于轉(zhuǎn)換器的無混疊操作摒棄了高頻開關(guān)噪聲,所以將轉(zhuǎn)換器集成到數(shù)字化儀所在的環(huán)境就更容易了。
由于無法將這些增強(qiáng)部分集成在一個(gè)芯片上,因而那些過去一直在推動(dòng)轉(zhuǎn)換器技術(shù)發(fā)展的組件廠商不能夠提供類似性能。
[B]它不僅僅只有高分辨率ADC[/B]
除了有一個(gè)高性能ADC,有一個(gè)不會(huì)造成性能瓶頸的前端也很重要。PXI-5922的特點(diǎn)在于有一個(gè)世界級(jí)的模擬前端,這個(gè)前端充分利用高性能的Flex II ADC,并允許數(shù)字化儀提供無與倫比的性能。
輸入放大器的輸入阻抗是軟件可選擇的,50 W或1 MW。50 W的輸入提供正確的BNC電纜端接,這在頻率響應(yīng)很重要的應(yīng)用中是非常有用的。對(duì)于驅(qū)動(dòng)50 W而會(huì)導(dǎo)致飽和或線性度降低的信號(hào)源,1 MW的輸入模式是非常有用的。
數(shù)字化儀包含一個(gè)可選輸入范圍為±1伏或±5伏的可編程增益測(cè)量放大器(PGIA)。
[B]同步與存儲(chǔ)核心[/B]
PXI-5922是基于同步與存儲(chǔ)核心1(SMC)構(gòu)架構(gòu)建的,所以您可以使用T-Clock2技術(shù)(SMC的一個(gè)基本組成),實(shí)現(xiàn)PXI-5922模塊與其他基于SMC的模塊化儀器的高精度同步。在搭建包括信號(hào)發(fā)生器、高速數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀和數(shù)字化儀的混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)時(shí),這種同步能力是非常關(guān)鍵的。另外,SMC構(gòu)架為PXI-5922數(shù)字化儀提供每通道高達(dá)256 MB的板上存儲(chǔ)。
[B]PXI-5922的性能示例[/B]
PXI-5922是市場(chǎng)上動(dòng)態(tài)范圍最寬的數(shù)字化儀。對(duì)于該數(shù)字化儀的頻率-分辨率曲線圖的大部分,目前沒有一個(gè)ADC能有更好的性能,更不要說數(shù)字化儀器了。同樣,沒有一個(gè)信號(hào)發(fā)生器的動(dòng)態(tài)性能強(qiáng)于PXI-5922。這主要意味著兩件事情:首先,該數(shù)字化儀可用來刻畫在其頻帶內(nèi)的大多數(shù)DAC的頻率特性;其次,沒有一個(gè)信號(hào)源能夠產(chǎn)生一個(gè)足夠純的正弦波,以刻畫PXI-5922特性。通過使用創(chuàng)新技術(shù)測(cè)量線性度、SFDR和SINAD等,我們克服了這個(gè)挑戰(zhàn)。本章節(jié)將通過一些典型的性能圖展示PXI-5922的性能。
[B]線性度和SFDR[/B]
對(duì)于單個(gè)正弦波輸入,非線性表現(xiàn)為頻域內(nèi)的諧波。為了測(cè)試一個(gè)ADC的諧波,進(jìn)而測(cè)試線性度,我們需要一個(gè)線性度更好的信號(hào)源。由于沒有與PXI-5922性能匹配的信號(hào)源可用,很難驗(yàn)證PXI-5922的線性度性能。因此,我們需要使用有源低通濾波,以衰減非理想正弦波產(chǎn)生的諧波。
圖12是一個(gè)滿量程5 Vp的正弦波的頻譜響應(yīng)(由PXI-5922采集得,采樣率200 kS/s,輸入范圍±5 V)。該頻譜不包含超過-120 dB的寄生成分,形成120 dBc的非寄生動(dòng)態(tài)范圍(SFDR)。
注意頻譜中的低頻噪聲來自信號(hào)源。濾波器衰減了信號(hào)源中頻率超過30 kHz的噪聲,其余出現(xiàn)在頻譜中的噪聲是有源濾波器造成的,而不是信號(hào)源。
[img]20053251413778677.gif[/img]
[center]圖12采集一個(gè)很純的10 kHz正弦波(由高端發(fā)生器產(chǎn)生并經(jīng)信號(hào)調(diào)理清潔)所得信號(hào)的FFT的曲線圖。這里PXI-5922的SFDR高達(dá)120 dBc。
[/center]
上述技術(shù)在低頻(低于100 kHz)時(shí)工作得很好。但對(duì)于驗(yàn)證更高頻率的線性度,由于很難找到線性度足夠好的放大器,所以不能使用有源濾波。為了驗(yàn)證PXI-5922在更高頻率的線性度,我們使用了一種不同的方法,其中包括使用任意波形發(fā)生器產(chǎn)生一個(gè)非理想的正弦波。通過一個(gè)線性陷波濾波器衰減基波,準(zhǔn)確檢測(cè)來自發(fā)生器的諧波成為可能。然后,修改發(fā)給發(fā)生器的數(shù)字模式就可以迭代消除諧波。
圖13描述了PXI-5922的典型SFDR與頻率的函數(shù)關(guān)系。用PXI-5922(采樣率10 MS/s、范圍±5 V)采集振幅為4 V的單純正弦波。對(duì)于1 MHz以下的所有頻率,諧波成分都比100dBc低得多。
[img]200532514165617111.gif[/img][center]圖13典型的SFDR與頻率的函數(shù)關(guān)系[/center]
[B]SINAD[/B]
和線性度相似,找到一個(gè)噪聲性能與PXI-5922的低噪聲相匹配的信號(hào)源也是不可能的。圖14中的圖形是這樣得到的:一個(gè)任意波形發(fā)生器產(chǎn)生了一個(gè)幅度為5 V的1 kHz正弦波,再由PXI-5922采集(采樣率100 kS/s、輸入范圍±5 V),最后該輸出經(jīng)過低阻抗分阻器衰減至原信號(hào)1/10,000。該衰減操作使發(fā)生器的固有噪聲降低了80dB,從而展示出PXI-5922的真正噪聲性能。注意盡管幅度很?。?00 μV),但信號(hào)看起來還是很干凈。信噪比是43 dB,要優(yōu)于滿量程下的許多數(shù)字示波器。這樣的性能實(shí)際上超過了20位的分辨率。
[img]200532514173277580.gif[/img][center]圖14 PXI-5922的低噪聲和高SINAD使它采集低水平信號(hào)成為可能。這里1 kHz正弦波的幅度為500 μV,但信號(hào)還是表現(xiàn)得很干凈。[/center]
另一種評(píng)價(jià)噪聲性能的方法就是,沒有輸入信號(hào),直接采集數(shù)據(jù)。圖15描述了采樣率為10 MS/s時(shí)的噪聲本底的FFT曲線圖。頻譜中從DC到4 MHz累積的功率相當(dāng)于滿量程的-95 dB,這幾乎與16位的分辨率相當(dāng)。我們也注意到系統(tǒng)中沒有寄生噪聲成分。噪聲在頻譜中的不均勻分布是前面討論的調(diào)制器中量化噪聲整形所造成的。
[img]200532514182763667.gif[/img][center]圖15沒有信號(hào)輸入時(shí)PXI-5922采集的信號(hào)的FFT曲線圖。采集參數(shù)包括:采樣率10 MS/s、輸入阻抗50 Ω、輸入范圍±5 V、參加平均的數(shù)目10和加漢寧(Hanning)窗。[/center]
[B]抗混疊保護(hù)[/B]
PXI-5922集成了一個(gè)抗混疊濾波器,可以提供一個(gè)帶寬為0.4倍采樣率的無混疊頻帶,如圖16所示的概念性頻率響應(yīng)框圖。
[img]20053251419441145.gif[/img][center]圖16 PXI-5922的特點(diǎn)在于無混疊帶寬為0.4倍采樣率(Fs)的集成式抗混疊保護(hù)。[/center]
圖17和18展示了數(shù)字化儀的抗混疊保護(hù)。以采樣率2 MS/s采集滿量程的600 kHz正弦波,符合奈奎斯特定理。如圖17所示,600 kHz信號(hào)像預(yù)期那樣出現(xiàn)在同一頻率。然而,當(dāng)采樣率降到1Ms/s時(shí),違背了奈奎斯特定理。如圖18所示,600 kHz信號(hào)在通帶中的400 kHz處產(chǎn)生混疊。由于抗混疊濾波器的存在,這個(gè)混疊成分被衰減了100dB。
[img]200532514192378439.gif[/img][center]圖17 以采樣率2 MS/s采集滿量程的600 kHz正弦波。頻譜中的毛刺和噪聲源自信號(hào)發(fā)生器。[/center]
[img]200532514194612416.gif[/img]
[center]圖18 以采樣率1 MS/s采集滿量程的600 kHz正弦波,且無混疊帶寬為400 kHz。600 kHz信號(hào)在400 kHz處產(chǎn)生的混疊被衰減了100dB。[/center]
[B]結(jié)論[/B]
PXI-5922,通過使用專利技術(shù)和完全定制的模擬ASIC——Flex II ADC,已成為采樣率高達(dá)15 MS/s的市場(chǎng)上可提供最高分辨率和最寬動(dòng)態(tài)范圍的數(shù)字化儀。靈活的分辨率和極寬的動(dòng)態(tài)范圍使PXI-5922成為動(dòng)態(tài)測(cè)量的通用儀器。與軟件相結(jié)合,這個(gè)通用儀器能用來替代許多傳統(tǒng)儀器。
[B]專利[/B]
6,049,298
生產(chǎn)一個(gè)用于模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器的線性度誤差糾正設(shè)備的系統(tǒng)和方法
6,020,838
生產(chǎn)一個(gè)使用矩陣計(jì)算線性度誤差糾正相關(guān)系數(shù)的DS糾正電路的系統(tǒng)和方法
5,955,979
補(bǔ)償D/A轉(zhuǎn)換器中的干擾誤差的系統(tǒng)和方法
5,734,261
包括在過電壓條件下的光耦合保護(hù)的輸入保護(hù)電路
[B]
參考文獻(xiàn)[/B]
1. “NI同步與存儲(chǔ)核心——混合信號(hào)測(cè)試的新構(gòu)架”技術(shù)白皮書
2. “用于模塊化儀器的定時(shí)和同步的NI T-Clock技術(shù)”白皮書
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